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電子芯片濕熱老化測試箱 環(huán)境溫變試驗箱廠(chǎng)
低溫試驗箱可以用來(lái)考核和確定電工、電子產(chǎn)品或材料在溫度循環(huán)變化，產(chǎn)品表面產(chǎn)生低溫環(huán)境條件下貯存和使用的適應性。
電子芯片濕熱老化測試箱 環(huán)境溫變試驗箱廠(chǎng)
二，高低溫試驗箱廠(chǎng)家高低溫試驗箱設備標準型號和尺寸（也可按客戶(hù)要求生產(chǎn)）（單位:mm）：
型號 Y-HE-80G 內形尺寸:W×H×D 450×500×400 外形尺寸：650×1500×950
型號 Y-HE-150G 內形尺寸:W×H×D 500×600×500 外形尺寸：750×1600×1050
型號 Y-HE-225G 內形尺寸:W×H×D 500×750×600 外形尺寸：1000×1650×1200
型號 Y-HE-408G 內形尺寸:W×H×D 600×850×800 外形尺寸：1100×1750×1400