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發(fā)布時(shí)間:2024-06-23
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簡(jiǎn)要描述:
PCT高壓加速壽命老化試驗箱高壓加速老化試驗雙重過(guò)熱保護裝置,當鍋內溫度過(guò)高時(shí),機器鳴叫警報并自動(dòng)切斷加熱電源。采用進(jìn)口微電腦控制飽和蒸氣溫度、微電腦P.I.D自動(dòng)演算控制飽和蒸氣溫度
PCT高壓加速壽命老化試驗箱
高壓加速老化試驗箱廠(chǎng)家外箱均采用304不銹鋼板,圓型內箱,不銹鋼圓型試驗內箱結構,符合工業(yè)容器標準,可防止試驗中結露滴水設計。圓幅內襯,不銹鋼圓幅型內襯設計,可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品。精密設計,氣密性良好,耗水量少,每次加水可連續200h。自動(dòng)門(mén)禁,圓型門(mén)自動(dòng)溫度與壓力檢知安全門(mén)禁鎖定控制,門(mén)把設計,箱內有大于常壓時(shí)測試們會(huì )被反壓保護。
PCT加速老化試驗箱主要是測試半導體封裝之濕氣能力,待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會(huì )沿者膠體或膠體與導線(xiàn)架之接口滲入封裝體,常見(jiàn)之故障方式為主動(dòng)金屬化區域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應用于線(xiàn)路板,多層線(xiàn)路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。加速老化壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力(如:溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等),加快試驗過(guò)程,縮短產(chǎn)品或系統的壽命試驗時(shí)間。
特點(diǎn)優(yōu)勢:
1.**優(yōu)化設計,美觀(guān)大方,做工精細。
2.采用大容量水箱,試驗時(shí)間長(cháng),不中斷。
3.采用日本“SHIMAX”智能溫控器,具有精度高,控制穩定特點(diǎn)(依客戶(hù)需要也可選擇采用觸摸屏為4.3寸真彩屏,USB曲線(xiàn)數據下載功能,和通訊功能)。
4. PCT加速老化試驗箱的水路配電盤(pán)分離,確保設備穩定可靠安全。
5.采用高效真空泵,使箱內達到**純凈飽和蒸汽狀態(tài)。 6.多項安全保護措施,故障報警顯示及故障原因和排除方法及功能顯示。
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