PCT高壓加速壽命加老化測試試驗箱產(chǎn)品應用:PCT加速老化試驗箱主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會(huì )沿者膠體或膠體與導線(xiàn)架之接口滲入封裝體，常見(jiàn)之故障方式為主動(dòng)金屬化區域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應用于線(xiàn)路板,多層線(xiàn)路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。加速老化壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等)，加快試驗過(guò)程，縮短產(chǎn)品或系統的壽命試驗時(shí)間。

PCT高壓加速壽命加老化測試試驗箱
a   型號：PCT—45L
b   內箱尺寸：450x500mm圓形內箱，符合工業(yè)標準
c   外箱尺寸：700x650x850mm(W、H、D）
d    容量：       35kg

參數：
a   溫度范圍： 100℃~+132 ℃
b   溫度波動(dòng)度:±0.5℃           
c   溫度偏差：±1.5 ℃        
e   濕度范圍：100%RH（飽和蒸氣）
f   濕 度波動(dòng)度：±2.0%RH
j   加壓時(shí)間：40分鐘 +132 ℃
h   循環(huán)方式：水蒸氣對流循環(huán)

四高溫高壓材質(zhì)：
a  外箱材質(zhì)：高級不銹鋼
b  內箱材質(zhì)：SUS316#不銹鋼
c   箱體保溫材質(zhì)：高級超細玻璃棉
d   單門(mén)圓門(mén)：門(mén)把手在右、內箱壓力愈大時(shí)，會(huì )有反壓使其與箱體更緊密結合，與傳統擠

壓*不同，可延長(cháng)packing壽命。

五高溫高壓蒸煮儀安全保護：

a   試驗箱可調試高溫保護
b   壓力限制保護
c   缺水報*保護
d   溫度加熱器保護
e   漏電漏水保護（設置報*）
f   手動(dòng)泄壓保護，自動(dòng)泄壓保護
j   切斷電源