PCT高溫高壓蒸煮加速耐老化試驗箱/機

高壓加速老化試驗箱廠(chǎng)家外箱均采用304不銹鋼板，圓型內箱，不銹鋼圓型試驗內箱結構，符合工業(yè)容器標準，可防止試驗中結露滴水設計。圓幅內襯，不銹鋼圓幅型內襯設計，可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品。精密設計，氣密性良好，耗水量少，每次加水可連續200h。自動(dòng)門(mén)禁，圓型門(mén)自動(dòng)溫度與壓力檢知安全門(mén)禁鎖定控制，門(mén)把設計，箱內有大于常壓時(shí)測試們會(huì )被反壓保護。

PCT高溫高壓蒸煮加速耐老化試驗箱/機

PCT加速老化試驗箱主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會(huì )沿者膠體或膠體與導線(xiàn)架之接口滲入封裝體，常見(jiàn)之故障方式為主動(dòng)金屬化區域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應用于線(xiàn)路板,多層線(xiàn)路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。加速老化壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等)，加快試驗過(guò)程，縮短產(chǎn)品或系統的壽命試驗時(shí)間。

特點(diǎn)優(yōu)勢：

1.設備設計美觀(guān)大方，做工精細。

2.采用大容量水箱,試驗時(shí)間長(cháng),不中斷。

3.采用日本“SHIMAX”智能溫控器，具有精度高，控制穩定特點(diǎn)（依客戶(hù)需要也可選擇采用觸摸屏為4.3寸真彩屏，USB曲線(xiàn)數據下載功能，和通訊功能）。

4. PCT加速老化試驗箱的水路配電盤(pán)分離，確保設備穩定可靠安全。

5.采用高效真空泵，使箱內達到**純凈飽和蒸汽狀態(tài)。 
6.多項安全保護措施,故障報警顯示及故障原因和排除方法及功能顯示。