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芯片研發(fā)專(zhuān)用低溫濕熱老化箱構造美觀(guān),高效安全,用途廣泛高低溫試驗箱是航空,汽車(chē),家電,科研等領(lǐng)域*的測試設備,用于測試和確定電工,電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行高溫,低溫,或恒定試驗的溫度環(huán)境變化后的參數及性能。
芯片研發(fā)專(zhuān)用低溫濕熱老化箱參數
技術(shù)參數
1.溫度范圍：0℃-100℃ -20℃-100℃ -40℃-100℃ -60℃-100℃ -70℃-100℃
2.低溫至常溫，也可按客戶(hù)需要定制非標試驗箱，低溫試驗室
3.溫度波動(dòng)度：±0.5℃（空載時(shí)）
4.溫度偏差：≤±2℃
5.升降溫平均速率：0.7℃～1.0℃/min （空載時(shí)）
6.時(shí)間設定范圍：0～9999 小時(shí)
7.電源要求：AC380V
宇航志達試驗裝備（東莞市）有限公司主營(yíng)冷熱沖擊試驗箱，高低溫冷熱沖擊試驗箱，大型冷熱沖擊試驗箱，小型冷熱沖擊試驗箱，三槽式冷熱沖擊試驗箱等產(chǎn)品。